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Produkt Details
  • Interface de test sous vide avec cassette sous vide serrant en parallèle.
  • Y compris interface adaptatrice pour système de test Keysight i3070
  • Y compris poignées de transport compatibles Alum-A-Lift
  • Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
  • Confort d’utilisation accru, manipulation simple et intuitive
  • Pour le montage des articles livrés non montés, les dessins des articles indiqués dans la liste de pièces doivent être utilisés.

Direktauswahl:

Technische Daten
  • Blocs d’interface internes max.: no name
  • Température max.: 60 °C
  • Sous-série: VA 30xx
  • Course de contact parallèle env.: 7 mm
  • Blocs d’interface requis: non
  • Série principale: VA xxxx
  • Type d’interface de test: Interface tandem, Keysight grand
  • Interface pour système de test: Keysight i3070 grand
  • Basse tension: non
  • Sens de mise en contact: ICT en bas
  • Génération de course de contact: vide
  • Force de contact max.: 12 N
  • Signaux d’interface max.: no name
  • Signaux d’interface max.: 7.104
  • Conformité ESD: non
  • Température min.: 10 °C
  • Taille du type: xx70L
  • Conforme RoHS: oui
  • Type de boîtier: Boîtier plat
  • Groupe de produits: Interface de test sous vide (VA)
  • Poids: 22,4 kg
  • Série: VA 3070LT
  • Surface utile standard (LxP): 2 x 295 x 400 mm
  • Version haute fréquence: non
  • Hauteur d’incorporation pointe de test en bas: 16 mm
  • Version à aiguille rigide: non
  • Mise en contact en haut (ZSK): oui, avec option supplémentaire adaptée
  • Version à 2 niveaux: non
  • Version ESD: non
  • Dimensions hors tout fermé (LxPxH): 840 x 460 x 117 mm
  • Version standard: oui
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